1. 基本校準(zhǔn)：適用于測(cè)量光滑物件表面涂層，或者測(cè)量物件的材料、面積和曲率和我們隨機(jī)附帶基體接近。
2. 零點(diǎn)校準(zhǔn)：建議開始任何一項(xiàng)測(cè)量任務(wù)前都進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，測(cè)量中途出現(xiàn)可疑誤差，也可隨時(shí)作歸零操作。
3. 一點(diǎn)校準(zhǔn)：預(yù)先估計(jì)待測(cè)量涂層厚度，使校準(zhǔn)點(diǎn)盡量靠近待測(cè)厚度，可以有效實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。此校準(zhǔn)方法可以輕松地使測(cè)量誤差控制在+-(1%...3%)+1um/1.5um(傳感器自身系統(tǒng)誤差)
4. 二點(diǎn)校準(zhǔn)：和一點(diǎn)校準(zhǔn)相似，盡量使待測(cè)涂層厚度范圍與兩點(diǎn)校準(zhǔn)點(diǎn)接近，以更好修正待測(cè)范圍內(nèi)的誤差。該校準(zhǔn)用于粗糙表面涂層測(cè)量和高精度的光滑涂層表面測(cè)量。